原理 ：
利用不同材料對超聲波聲阻抗不同，對聲波的吸收和反射程度不同，來探測半導體、元器件的結(jié)構(gòu)、缺陷、對材料做定性分析。
應(yīng)用:
D9500以其無與倫比的精度和穩(wěn)健性成為了現(xiàn)代微聲學成像的標準，是失效分析，工藝開發(fā)，材料分析與表征和小批量生產(chǎn)的最佳選擇。D9500采用同時傳輸和反射模式，并且應(yīng)用更新更符合人體工程學設(shè)計。
主要特征：
.慣性平穩(wěn)掃描裝置能減少振動，確保最佳的掃描結(jié)果
.擁有多種頻率的探頭,能夠細致清晰掃描物體內(nèi)部;
.非破壞性，對粘接層面敏感;
.能穿透大多數(shù)材料
.新的，更大的掃描范圍，有多個托盤可以容納大樣本
.多語言操作系統(tǒng)，使用者可以選擇母語：中文，英語和日語。
.溫度控制選擇：無論周圍環(huán)境中空氣溫度變化，會確保一天中水的溫度保持不變
B型掃描定量分析模式（Q-BAM）：Sonoscan特有的B型掃描模式，為用戶提供一個極準確且包含深層數(shù)據(jù)的虛擬橫截面
美國Sonoscan D9500超聲波掃描顯微鏡 D9600 D9650 Gen6 C-SAM Gen7 C-SAM檢測系統(tǒng)
Sonoscan美國索諾斯康超聲波掃描顯微鏡
